Équipements – Analyses par Rayons X – Réflectométrie et Diffraction D1-Equipements-Réflectométrie-RXRéflectométriedes rayons XSeifert XRD 3000Seifert XRD 3000Seifert XRD TS4Seifert XRD TS4Bruker D8Bruker D8 Voir aussi dans «Physique et Mécanique des Matériaux» Endommagement et durabilité (ENDO) Équipements – Analyses spectrométriques – Analyse de surface Équipements – Caractérisation Électrique et Optique