GOUDEAU Philippe

Directeur de recherche au CNRS
philippe.goudeau@univ-poitiers.fr

CNRS-Université de Poitiers-ISAE ENSMA
11 Boulevard Marie et Pierre Curie
Téléport 2, BP 30179
86962 Futuroscope Cédex
France

Equipe de recherche

Améliorations des propriétés par traitements plasma

Surfaces – Interfaces et Matériaux sous Contrainte – SIMAC

Recherche


  • Effets de taille et de microstructure sur les propriétés mécaniques de films minces nano-structurés sur substrats étirables – mesure des déformations par DRX et CIN
  • Cartographie des contraintes par micro-diffraction X sur des sources synchrotrons

MRS, TMS, SF2M, SFP, AFCMember

Divers:

  • Membres du CS du Labex EMC3
  • Membre expert de comités de visite AERS:DMN-CEA,SIMAP
  • Rapporteur pour des RICL(TSF,ASS,APL …) et des programmes de pays européens (ETH Zurich, CSF, ESRF review panel, CEA Eurotalents …).
  • Co-organisateur du colloque RX&Matière & co-éditeur du livre RX&Matière

Site Personnel


http://ph.goudeau.free.fr/

Séléction de publications


Sélection de 5 articles récents (2009-2013) :

  • “In situ diffraction strain analysis of elastically deformed polycrystalline thin films, and micromechanical interpretation », FAURIE D., CASTELNAU O., BRENNER R., RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GOUDEAU PH., JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 42 (2009) 1073-1084 IF 3.343

 

  • “Elastic-strain distribution in metallic film-polymer substrate composites”, GEANDIER G., RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GOUDEAU PH., FAURIE D., LE BOURLOT C., DJEMIA PH., CASTELNAU O., CHERIF S. M., APPLIED PHYSICS LETTERS 96, 041905 (2010). IF 3.794

 

  • “Microstructure and elastic properties of atomic layer deposited TiO2 anatase thin films”, BONTEMPI E., BORGESE L., GELFI M., ZUCCA M., DEPERO L.E., GOUDEAU P., GEANDIER G., THIAUDIERE D., ACTA MATERIALA 59 (2011) 2891-2900. IF 3.941

 

  • “Strains in light-ion-implanted polycrystals: influence of grain orientation”, RICHARD A., PALANCHER H., CASTELIER E., MICHA J.-S., GAMALERI M., CARLOT G., ROUQUETTE H., GOUDEAU P., MARTIN G., RIEUTORD F., PIRON J. P., GARCIA P., JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY (2012). 45, 826–833. IF 3.343

  • “Yield surface of polycrystalline thin films as revealed by non equi-biaxial loadings at small deformation”, DJAZIRI S., FAURIE D., RENAULT P.-O., LE BOURHIS E., GOUDEAU PH., GEANDIER G., THIAUDIÈRE D., ACTA MATERIALIA 61 (2013) 5067–5077. IF 3.941

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